Logo BSU

Поиск


Текущие фильтры:
Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 1-10 из 19.
Найденные документы:
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2013Modeling of Thermal Processing at the Formation of Shallow Doped IC Active RegionsKomarov, A. F.; Velichko, O. I.; Zayats, G. M.; Komarov, F. F.; Miskiewicz, S. A.; Mironov, A. M.; Makarevich, Yu. V.
2015Formation of InAs Nanoclusters in Silicon by High-Dose Ion Implantation: Experimental Data and Simulation ResultsKomarov, A. F.; Komarov, F. F.; Mil’chanin, O. V.; Vlasukova, L. A.; Parkhomenko, I. N.; Mikhailov, V. V.; Mokhovikov, M. A.; Miskevich, S. A.
2016Ion-Beam Formation and Track Modification of InAs Nanoclusters in Silicon and SilicaKomarov, F. F.; Milchanin, O. V.; Skuratov, V. A.; Makhavikou, M. A.; van Vuuren, A. Janse; Neethling, J. N.; Wendler, E.; Vlasukova, L. A.; Parkhomenko, I. N.; Yuvchenko, V. N.
2015Simulation of Radiation Effects in SiO2/Si StructuresKomarov, F. F.; Zayats, G. M.; Komarov, A. F.; Miskiewicz, S. A.; Michailov, V. V.; Komsta, H.
2012A New Nanoporous Material Based on Amorphous Silicon DioxideVlasukova, L. A.; Komarov, F. F.; Yuvchenko, V. N.; Mil’chanin, O. V.; Didyk, A. Yu.; Skuratov, V. A.; Kislitsyn, S. B.
2014Simulation of Radiation Effects in SiO2/Si StructuresKomarov, A. F.; Zayats, G. M.; Komarov, F. F.; Miskiewicz, S. A.; Michailov, V. V.
2014Threshold and criterion for ion track etching in SiO2layers grown on SiVlasukova, L. A.; Komarov, F. F.; Yuvchenko, V. N.; Wesch, W.; Wendler, E.; Didyk, A. Yu.; Skuratov, V. A.; Kislitsin, S. B.
2012Controlling Boron Diffusion during Rapid Thermal Annealing with CoImplantation by Amphoteric Impurity AtomsMakarevich, Yu. V.; Komarov, F. F.; Komarov, A. F.; Mironov, A. M.; Zayats, G. M.; Miskevich, S. A.
2011Peculiarities of proton transmission through tapered glass capillariesKomarov, F. F.; Kamyshan, A. S.; Grishin, P. A.
2007Using of a microcapillary refractive X-ray lens for focusing and imagingDudchik, Yu. I.; Komarov, F. F.; Piestrup, M. A.; Gary, C. K.; Park, H.; Cremer, J. T.