Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elib.bsu.by/handle/123456789/18895
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorУглов, Владимир Васильевич-
dc.contributor.authorЧеренда, Николай Николаевич-
dc.contributor.authorАнищик, Виктор Михайлович-
dc.date.accessioned2012-10-19T11:50:37Z-
dc.date.available2012-10-19T11:50:37Z-
dc.date.issued2007-
dc.identifier.isbn978-985-485-813-5-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/18895-
dc.description.abstractИзложены современные методы анализа элементного состава материалов, основанные на взаимодействии электронов, ионов и фотонов с поверхностью, приведена классификация методов анализа поверхности. Для каждого из методов рассматриваются физические процессы и наиболее важные закономерности, лежащие в их основе, а также влияние параметров зондирующего пучка на результаты анализа. Пособие предназначено для студентов физического факультета и факультета радиофизики и электроники БГУ.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherБГУru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleМетоды анализа элементного состава поверхностных слоевru
dc.typeBookru
Appears in Collections:Учебники и другие пособия физического факультета

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Element analysis.pdf3,84 MBAdobe PDFView/Open


PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.