Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: http://elib.bsu.by/handle/123456789/182633
Заглавие документа: Effect of annealing on the Structure of thermal evaporated In2S3 thin films / V.F. Gremenok, K.T. Ramakrishna Reddy, M.S. Tivanov, A. Patryn // Electrical Review. - 2017. - R. 93, № 8. - P. 89-91.
Авторы: Gremenok, V. F.
Ramakrishna Reddy, K. T.
Tivanov, M. S.
Patryn, A.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: авг-2017
Издатель: Society of Polish Electrical and Electronics Engineers
Библиографическое описание источника: Electrical Review
Аннотация: Structural studies on In2S3 thin films deposited by vacuum thermal evaporation on glass substrates at a temperature of 240°C, followed by annealing at 330°C and 400°C are presented. It was shown that the films were of amorphous in nature before annealing and after annealing the films became polycrystalline and showed β- In2S3 structure. The grain size increased and followed the usual crystal growth process as the annealing temperature increased. The annealing-induced changes of surface roughness were characterized by atomic force microscopy.
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/182633
ISSN: 0033-2097
Располагается в коллекциях:Статьи сотрудников физического факультета

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
Effect of annealing on the structure of thermal evaporated In2S3 thin films.pdf389,09 kBAdobe PDFОткрыть


Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.