Электронная библиотека БГУ: Поиск

Даты публикации Авторы Заглавия Темы

Поиск

Поиск:
запрос

Текущие фильтры:

Начать новый поиск

Добавить фильтры:

Результаты/Страница | Сортировать документы по В порядке Авторы/запись

Результаты 21-30 из 35.

Найденные документы:

Предварительный просмотр	Дата выпуска	Заглавие	Автор(ы)
	2003	Температурная и частотная зависимости реактивных составляющих импеданса pn-переходов на кремнии	Поклонский, Н. А.; Горбачук, Н. И.; Шпаковский, С. В.
	2007	Частотная зависимость реактивного импеданса облученных электронами р+n-переходов на кремнии	Поклонский, Н. А.; Горбачук, Н. И.; Шпаковский, С. В.; Куприк, В. С.; Ластовский, С. Б.; Wieck, А.
	2007	Дефектообразование в природных алмазах при имплантации ионами водорода	Лапчук, Н. М.; Поклонская, О. Н.; Хомич, А. В.; Хмельницкий, Р. А.; Заведеев, Е. В.; Поклонский, Н. А.
	2008	Блочно-регулярное моделирование структуры углеродных нанотрубок	Власов, А. Т.; Поклонский, Н. А.; Хиеу, Нгуен Нгок; Вырко, С. А.
	2008	Импеданс кремниевых p+n-диодов в области микроплазменного пробоя	Поклонский, Н. А.; Горбачук, Н. И.; Шпаковский, С. В.; Филипеня, В. А.; Соловьев, Я. А.; Лacтoвcкий, С. Б.; Wieck, А.
	2018	Чувствительность к влажности иттрий-стабилизированного диоксида циркония	Lyubchyk, A.; Ксеневич, В. К.; Поклонский, Н. А.; Адамчук, Д. В.; Ковалев, А. И.
	2018	Емкость в режиме сильной инверсии структур Al/SiO2/n-Si, облученных ионами ксенона	Поклонский, Н. А.; Горбачук, Н. И.; Шпаковский, С. В.; Скуратов, В. А.; Wieck, A.
	2007	Новый метод определения времени жизни неосновных носителей заряда в базе диода с радиационными дефектами	Поклонский, Н. А.; Сягло, А. И.; Гардей, А. П.; Горбачук, Н. И.; Шпаковский, С. В.; Власов, А. Т.
	2008	Кремниевые нанотрубки: моделирование структурной устойчивости и диффузионнъiх процессов	Гусакова, Ю. В.; Поклонский, Н. А.; Гусаков, В. Е.
	2001	Перспективные полупроводниковые материалы: физика и технология	Доросинец, В. А.; Захаров, А. Г.; Ланчук, H. М.; Лукашевич, М. Г.; Поклонский, Н. А.; Челядинский, А. P.; Явид, В. Ю.; Янченко, А. М.