Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/151954| Заглавие документа: | Способ определения показателя преломления вблизи края собственного поглощения толстой пленки прямозонного полупроводникового материала: Патент на изобретение |
| Авторы: | Тиванов, Михаил Сергеевич Шутько, И. А. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Дата публикации: | апр-2016 |
| Издатель: | ГКНТ РБ. Национальный центр интеллектуальной собственности |
| Библиографическое описание источника: | Официальный бюллетень. - 2016. - № 2. - C. 107 - 108 |
| Аннотация: | Способ определения показателя преломления вблизи края собственного поглощения толстой пленки прямозонного полупроводникового материала. |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/151954 |
| Располагается в коллекциях: | Кафедра физики твердого тела и нанотехнологий (статьи) |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Способ определения показателя преломления вблизи края собственного поглощения толстой пленки прямозонного полупроводникового материала.pdf | 813,97 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.