Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/113499| Заглавие документа: | Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction |
| Авторы: | Benediktovitch, A. I. Zhylik, Alexei Ulyanenkova, Tatjana Myronov, Maksym Ulyanenkov, A. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Дата публикации: | 2015 |
| Библиографическое описание источника: | J. Appl. Cryst. (2015). 48 |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/113499 |
| Располагается в коллекциях: | Кафедра теоретической физики и астрофизики (статьи) |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 2015'Benediktovitch_JAC.pdf | 1 MB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.