Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/109018
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorSaad, A.-
dc.contributor.authorOdrinski, A.-
dc.contributor.authorTivanov, M.-
dc.contributor.authorDrozdov, N.-
dc.contributor.authorFedotov, A.-
dc.contributor.authorGremenok, V.-
dc.contributor.authorMazanik, A.-
dc.contributor.authorPatryn, A.-
dc.contributor.authorZalesski, V.-
dc.contributor.authorZaretskaya, E.-
dc.date.accessioned2015-02-09T14:30:52Z-
dc.date.available2015-02-09T14:30:52Z-
dc.date.issued2008-02-
dc.identifier.citationJournal of Materials Science: Materials in Electronics. - 2008. - Vol. 19. - P. 371 - 374.ru
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/109018-
dc.description.abstractIn the present work we demonstrate the possibility of using the photoinduced current transient spectroscopy (PICTS) method to study the defects in Cu(In,Ga)(S,Se)2 films which can be used as an absorber layer in solar cells (SCs). The conducted experiments enable one to determine the parameters (activation energies and effective capture cross-sections) of the defects revealed in the films under study.ru
dc.language.isoenru
dc.publisherSpringerru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleInvestigation of defects in Cu(In,Ga)(S,Se)2 films using the photocurrent decay techniqueru
dc.typearticleru
Располагается в коллекциях:Архив статей

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
Investigation of defects in Cu(In,Ga)(S,Se)2 films using the photocurrent decay technique.pdf281,24 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.