Logo BSU

Browsing by Author Керенцев, А. Ф.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я

or enter first few letters:  
Showing results 1 to 6 of 6
PreviewIssue DateTitleAuthor(s)
2008Анализ качества посадки кристаллов мощных кремниевых MOSFET транзисторов тепловыми методамиБумай, Ю. А.; Васьков, О. С.; Керенцев, А. Ф.; Турцевич, А. С.
2016Исследование методом электротепловой спектрометрии деградации структуры теплового сопротивления транзисторов КП7209 в корпусе ТО-254 при воздействии высокоинтенсивных термоударовБумай, Ю. А.; Васьков, О. С.; Кононенко, В. К.; Нисс, В. С.; Керенцев, А. Ф.; Петлицкий, А. Н.; Рубцевич, И. И.
2014Исследование структуры теплового сопротивления ДМОП-транзисторов неразрушающим методом ТРДСНисс, В. С.; Васьков, О. С.; Кононенко, В. К.; Турцевич, А. С.; Рубцевич, И. И.; Соловьев, Я. А.; Керенцев, А. Ф.
2018Исследования изменений теплового сопротивления мощных МОП транзисторов при термоиспытанияхБумай, Ю. А.; Васьков, О. С.; Нисс, В. С.; Керенцев, А. Ф.; Петлицкий, А. Н.; Соловьев, Я. А.
2016Методика электротепловой спектрометрии для исследования малых изменений теплового сопротивления полупроводниковых приборов при термоиспытанияхБумай, Ю. А.; Васьков, О. С.; Кононенко, В. К.; Нисс, В. С.; Керенцев, А. Ф.; Петлицкий, А. Н.; Соловьев, Я. А.
2012ТЕПЛОВЫЕ ПАРАМЕТРЫ, СТРУКТУРА И ДЕФЕКТНОСТЬ ПОСАДКИ МОЩНЫХ ПОЛЕВЫХ ТРАНЗИСТОРОВВаськов, О. В.; Кононенко, В. К.; Нисс, В. С.; Турцевич, А. С.; Рубцевич, И. И.; Соловьев, Я. А.; Керенцев, А. Ф.