| Предварительный просмотр | Дата выпуска | Заглавие | Автор(ы) |
| 2023 | Влияние длительной и быстрой термообработок на формирование границы раздела алюминий – поликремний | Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С; Жигулин, Д. В.; Шестовский, Д. В.; Анищик, В. М.; Понарядов, В. В. |
| 1985 | Влияние импульсной оптической обработки на параметры диэлектрических пленок | Горушко, В. А.; Николаеня, А. З.; Пилипенко, В. А.; Стержанов, Н. И.; Чигирь, Г. Г. |
| мая-2007 | Влияние лазерного геттерирования на структурные и электрические параметры эпитаксиальных слоев кремния | Пилипенко, В. А.; Вечер, Д. В.; Понарядов, В. В.; Горушко, В. А.; Сякерский, В. С.; Петлицкая, Т. В. |
| янв-2008 | Влияние лазерного геттерорирования кремниевых пластин на свойства границы раздела Si – SIO2 | Пилипенко, В. А.; Вечер, Д. В.; Понарядов, В. А.; Горушко, В. А.; Сякерский, В. С.; Петлицкая, Т. В. |
| 2007 | Влияние лазерной обработки импульсами наносекундной длительности на поверхностные свойства кремния | Пилипенко, В. А.; Вечер, Д. В.; Горушко, В. А.; Сякерский, B. C.; Петлицкая, Т. В. |
| 2021 | Влияние неконтролируемых технологических примесей на температурную зависимость коэффициента усиления биполярного n-p-n-транзистора | Оджаев, В. Б.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Просолович, В. С.; Филипеня, В. А.; Шестовский, Д. В.; Явид, В. Ю.; Янковский, Ю. Н. |
| 2022 | Влияние термической нагрузки при формировании контактов Al-Al на электрические параметры интегральных микросхем с контактами алюминий-поликремний | Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Ковальчук, Н. С.; Соловьёв, Я. А.; Шестовский, Д. В.; Жигулин, Д. В. |
| 2022 | Влияние уровня легирования и ретикулярной плотности исходных кремниевых пластин на их оптические характеристики после быстрой термообработки | Омельченко, А. А.; Солодуха, В. А.; Пилипенко, В. А. |
| 2020 | Влияние ширины запрещенной зоны на температурную зависимость коэффициента усиления биполярного n-p-n-транзистора | Оджаев, В. Б.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Просолович, В. С.; Филипеня, В. А.; Шестовский, Д. В.; Явид, В. Ю.; Янковский, Ю. Н. |
| 2016 | Государственный центр «Белмикроанализ» – центр коллективного пользования по проведению аналитических исследований при создании инновационных изделий микро- и наноэлектроники | Пилипенко, В. А. |
| 2018 | Зависимость коэффициента усиления биполярного n–p–n-транзистора от параметров легированных областей и содержания технологических примесей | Оджаев, В. Б.; Панфиленко, А. К.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Просолович, В. С.; Филипеня, В. А.; Явид, В. Ю.; Янковский, Ю. Н. |
| 2019 | Зависимость коэффициента усиления биполярного транзистора от параметров ионно-имплантированных областей эмиттера и базы | Оджаев, В. Б.; Панфиленко, А. К.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Просолович, В. С.; Филипеня, В. А.; Явид, В. Ю.; Янковский, Ю. Н. |
| 2019 | Зависимость коэффициента усиления биполярного транзистора от параметров ионно-имплантированных областей эмиттера и базы | Оджаев, В. Б.; Панфиленко, А. К.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Просолович, В. С.; Филипеня, В. А.; Явид, В. Ю.; Янковский, Ю. Н. |
| 2022 | Зарядовые свойства тонких подзатворных диэлектриков, полученных методом быстрой термообработки | Ковальчук, Н. С.; Марудо, Ю. А.; Омельченко, А. А.; Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Демидович, С. А.; Колос, В. В.; Анищик, В. М.; Филипеня, В. А.; Шестовский, Д. В. |
| 2020 | Зондовые зарядочувствительные методы в технологическом контроле производства больших интегральных схем | Тявловский, К. Л.; Тявловский, А. К.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Жарин, А. Л.; Свистун, А. И.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. |
| 2021 | Изменение оптических параметров кремния после быстрой термической обработки | Анищик, В. М.; Горушко, В. А.; Пилипенко, В. А.; Понарядов, В. В.; Солодуха, В. А.; Омельченко, А. А. |
| янв-2012 | Исследование топологии интегральных микросхем методом атомно-силовой микроскопии | Пилипенко, В. А.; Чижик, С. А.; Понарядов, В. В.; Петлицкая, Т. В.; Кузнецова, Т. А. |
| 2022 | Исследования электрофизических свойств тонких подзатворных диэлектриков, полученных методом многостадийного быстрого термического отжига | Ковальчук, Н. С.; Омельченко, А. А.; Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Демидович, С. А.; Колос, В. В.; Филипеня, В. А.; Шестовский, Д. В. |
| 2022 | Контроль качества полупроводниковых материалов и приборных структур с использованием измерительной установки СКАН-2019 | Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Пантелеев, К. В.; Микитевич, В. А.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. |
| 2024 | Механизм взаимодействия алюминия с поликремнием при формировании омического контакта методами длительной и быстрой термообработок | Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С.; Жигулин, Д. В.; Шестовский, Д. В.; Анищик, В. М.; Понарядов, В. В. |
